Nano-CT ist eine moderne Analysemethode um mit mikroskopischer Auflösung in das innere von Objekten zu schauen, wo normale Mikroskope nicht hinkommen. Forschende zeigen am Beispiel, wie man damit die Strukturen und Leiterbahnen in Mikrochips untersuchen kann. Somit können verborgene Fehler und Defekte sichtbar gemacht oder die Mikrochips auf ihre Funktion und Authentizität geprüft werden.
InfostandVorführung
17:00 – 00:00 Uhr
Elektrotechnik und Informationstechnik
2 Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen IIS, Bereich Entwicklungszentrum Röntgentechnik, Standort Fürth Flugplatzstraße 75 90768 Fürth
W04W04 Tour Fraunhofer Erlangen-Fürth Fraunhofer-Institut
Umstiegsmöglichkeiten:
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